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扫描电子显微镜（简称扫描电镜，SEM）是继透射电镜之后发展起来的一种电镜。与透射电镜的成像方式不同，扫描电镜是用聚焦电子束在样品表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子（被入射电子轰击出来的样品核外电子）、背散射电子（被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子）或吸收电子。其中二次电子为主要的成像信号。现以二次电子像的成像过程来说明扫描电镜的工作原理。由电子枪发射的能量为5-35KeV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成

具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其他物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。

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压敏电阻连续工作电压寿命，即压敏电阻在规定环境和系统电压条件下应能可靠地工作规定的时间（h）。由于压敏电阻总是承受着稳态工作电压应力的作用，压敏电阻的寿命是与漏电流密切相关的。在不发生机械或其他电气性能失效的情况下，压敏电阻的寿命主要由漏电流IR（密度JR）及其温度、电压和时间的上升情况所决定。随着漏电流IR（密度JR）升高，发热量增大，若这个能量不能散失，元件的温度会很快上升，这种元件在维持一段初始稳定状态后，终将达到热失控（击穿）的温度而结束其使用寿命。

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